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An efficient built‐in error detection methodology with fast page‐oriented data comparison in 3D NAND flash memories
Electronics Letters ( IF 1.1 ) Pub Date : 2022-04-25 , DOI: 10.1049/ell2.12484 HM. Cao 1, 2 , F. Liu 1, 2 , Q. Wang 1, 2, 3 , ZC. Du 1, 2, 3 , L. Jin 1, 2, 3 , ZL. Huo 1, 2, 3
中文翻译：
一种高效的内置错误检测方法，在 3D NAND 闪存中具有快速面向页面的数据比较
更新日期：2022-04-25
Electronics Letters ( IF 1.1 ) Pub Date : 2022-04-25 , DOI: 10.1049/ell2.12484 HM. Cao 1, 2 , F. Liu 1, 2 , Q. Wang 1, 2, 3 , ZC. Du 1, 2, 3 , L. Jin 1, 2, 3 , ZL. Huo 1, 2, 3
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中文翻译：
一种高效的内置错误检测方法，在 3D NAND 闪存中具有快速面向页面的数据比较
京公网安备 11010802027423号