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Effect of sample carriers on analytical parameters in total reflection X-ray fluorescence - a tool for multi-trace elemental analysis
Spectroscopy Letters ( IF 1.7 ) Pub Date : 2024-01-08 , DOI: 10.1080/00387010.2023.2285912 Manjunatha 1 , A. S. Bennal 1 , N. M. Badiger 2 , H. Stosnach 3 , M. Y. Kariduraganavar 4
Spectroscopy Letters ( IF 1.7 ) Pub Date : 2024-01-08 , DOI: 10.1080/00387010.2023.2285912 Manjunatha 1 , A. S. Bennal 1 , N. M. Badiger 2 , H. Stosnach 3 , M. Y. Kariduraganavar 4
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The Total reflection X-ray Fluorescence technique is increasingly popular for its simplicity and rapid elemental screening. This study evaluates the various analytical parameters including spectros...
中文翻译：
样品载体对全反射 X 射线荧光分析参数的影响 - 多痕量元素分析工具
全反射 X 射线荧光技术因其简单和快速的元素筛选而越来越受欢迎。这项研究评估了各种分析参数，包括光谱……
更新日期：2024-01-08
中文翻译：
样品载体对全反射 X 射线荧光分析参数的影响 - 多痕量元素分析工具
全反射 X 射线荧光技术因其简单和快速的元素筛选而越来越受欢迎。这项研究评估了各种分析参数，包括光谱……
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